是利用物質在火花激發下,檢測器通過檢測不同元素的特征譜線,而進行元素的定性與定量分析的。
地質礦石樣品多種多樣,手持式熒光光譜儀在應對不同的樣品時有著不同的測試方法。
通過整合技術,突破創新,使得手持XRF技術得以運用於各大領域
---Crono對Raphael’s workshop 穹頂繪畫研究
Bruker Dektak-XT接觸式表麵輪廓儀(台階儀)作為Dektak係列第十代產品,經過50多年的更新升級及技術創新,目前已成為使用廣泛的接觸式表麵檢測設備,有著眾多的用戶群體並得到好評。
布魯克第十代Dektak 產品在過去五十年不斷的技術創新,得到眾多使用客戶的認可。
電話:86-021-37018108
傳真:86-021-57656381
郵箱:info@boyuesh.com
地址:上海市鬆江區莘磚公路518號鬆江高科技園區28幢301室